存储器实验

一.实验目的

了解 S3C2410X 处理器的内部存储空间分配； 掌握对存储区配置的方法；

掌握对存储区进行读写访问的方法。

二.实验设备

硬件：Embest EduKit-IV 平台，ULINK2 仿真器套件，PC 机；

软件：μVision IDE for ARM 集成开发环境，Windows 98/2000/NT/XP。

三.实验内容

熟练使用命令脚本文件对 ARM 存储控制寄存器进行正确配置； 使用 C 语言编程，实现对RAM 的读写访问。

四.实验原理

存储器控制

S3C2410 处理器的存储控制器可以为片外存储器访问提供必要的控制信号，它主要包括以下特点：

A）支持大、小端模式（通过软件选择）；

B）地址空间：包含8 个地址空间，每个地址空间的大小为128M 字节，总共有1G 字节的地址空间； C）除BANK0 以外的所有地址空间都可以通过编程设置为8 位、16 位或32 位对准访问。BANK0 可以设置为16 位、32 位访问；

D）8 个地址空间中，6 个地址空间可以用于ROM、SRAM 等存储器，2 个用于ROM、SRAM、 SDRAM 等存储器；

E）6 个地址空间的起始地址及空间大小是固定的； F）1 个地址空间的起始地址和空间大小是可变的； G）所有存储器空间的访问周期都可以通过编程配置； H）提供外部扩展总线的等待周期； I）SDRAM 支持自动刷新和掉电模式。

五.实验步骤

1. 准备实验环境

使用ULINK2 仿真器连接Embest EduKit-IV 实验平台的主板JTAG 接口；使用Embest EduKit-IV实验平台附带的交叉串口线，连接实验平台主板上的COM2 和PC 机的串口（一般PC 只有一个串口，如果有多个请自行选择，笔记本没有串口设备的可购买USB 转串口适配器扩充）；使用EmbestEduKit-IV 实验平台附带的电源适配器，连接实验平台主板上的电源接口。

2. 串口接收设置

在PC 机上运行windows 自带的超级终端串口通信程序，或者使用实验平台附带光盘内设置好了的超级终端，设置超级终端：波特率115200、1 位停止位、无校验位、无硬件流控制，或者使用其它串口通信程序。（注：超级终端串口的选择根据用户的PC 串口硬件不同，请自

行选择，如果PC机只有一个串口，一般是COM1）

3. 打开实验例程

1）拷贝实验平台附带光盘DISK3_S3C2410\\03-Codes\\01-MDK\\Mini2410-IV 文件夹到MDK 的 安装路径：Keil\\ARM\\Boards\\Embest\\（如果本实验之前已经拷贝，可以跳过这一步）。（注：用户也可拷贝工程到任意目录，本实验为了便于教学，故统一实验路径）； 2）运行μVision IDE for ARM 软件，点击菜单栏“Project”，选择“Open Project„”，在弹出的对话框选择实验例程目录5.1_Memory_Test 子目录下的Memory_Test.Uv2 工程。 3）默认打开的工程在源码编辑窗口会显示实验例程的说明文件readme.txt，详细阅读并理解实验内容。

4）工程提供了两种运行方式：一是下载到SDRAM 中调试运行，二是固化到Nor Flash 中运行。用户可以在工具栏Select Target 下拉框中选择在RAM 中调试运行还是固化Flash 中运行。如下图所示：下面实验将介绍下载到SDRAM 中调试运行，所以我们在Select Target 下拉框中选择Memory_Test IN RAM。 5）接下来开始编译链接工程，在菜单栏“Projiet”选择“Build target”或者“Rebuild all target files”编译整个工程，用户也可以在工具栏单击“ ”或者“ ”进行编译。 6） 编译完成后，在输出窗口可以看到编译提示信息，比如“\".\\SDRAM\\Memory_Test.axf\" - 0 Error(s), 1 Warning(s).”，如果显示“0 Error(s)”即表示编译成功。 7）拨动实验平台电源开关，给实验平台上电，单击菜单栏Debug->Start/Stop Debug Session 项将编译出来的映像文件下载到SDRAM 中，或者单击工具栏“ ”按钮来下载。

8）下载完成后，单击菜单栏Debug->Run 项运行程序，或者单击工具栏“ ”按钮来全速运 行程序。用户也可以使用进行单步调试程序。

9）全速运行后，用户可以在超级终端看到程序运行的信息，以检测对存储区的操作是否成功。

10）用户可以Stop 程序运行，使用μVision IDE for ARM 的一些调试窗口跟踪查看程序运行的信息。

注：如果在第4）步用户选择在Flash 中运行，则编译链接成功后，单击菜单栏Flash->Download项将程序固化到NorFlash 中，或者单击工具栏按钮“ ”固化程序，从实验平台的主板拔出JTAG线，给实验平台重新上电，程序将自动运行。

4. 观察实验结果

在执行到第8）步时，可以看到超级终端上显示以下信息：

******************************************************************* ** 英蓓特EduKit 系列嵌入式教学系统平台 **

** Embest EduKit Series Embedded Teaching Platform **

******************************************************************* Memory Test(30E00000H-30F00000H):WR Memory Test(30E00000H-30F00000H):RD O.K.

5. 完成实验练习题

理解和掌握实验后，完成实验练习题。

六.实验参考程序

本实验的参考程序如下：

/*********************************************************************************************

* File： memory.c * Author: embest

* Desc： memory test file * History:

*********************************************************************************************/

/*------------------------------------------------------------------------------------------*/

/* include files */

/*------------------------------------------------------------------------------------------*/

#include \"2410lib.h\"

/*********************************************************************************************

* name: memory_test * func: memory test * para: none * ret: none * modify: * comment:

*********************************************************************************************/

void memory_test(void) { int i; UINT32T data; int memError=0; UINT32T *pt;

uart_printf(\"\\n Memory

Test(%xh-%xh):WR\\n\));

// memory write

pt=(UINT32T *)(_RAM_STARTADDRESS+0x0e000000); while((UINT32T)pt<(_ISR_STARTADDRESS&0xf0ff0000)) {

*pt=(UINT32T)pt; pt++; }

// memory read

uart_printf(\"\\n Memory

Test(%xh-%xh):RD\\n\);

pt=(UINT32T *)(_RAM_STARTADDRESS+0x0e000000); while((UINT32T)pt<(_ISR_STARTADDRESS&0xf0ff0000))

{

data=*pt;

if(data!=(UINT32T)pt) {

memError=1;

uart_printf(\"\\n\\b\\bFAIL:0x%x=0x%x\\n\break; } pt++; }

if(memError==0)

uart_printf(\"\\n\\b\\b O.K.\\n\"); }

七.练习题

编写程序对SRAM 进行字节，半字的读写访问。