一种芯片测试板及芯片测试的方法

（12）发明专利说明

（21）申请号 CN201610948971.8 （22）申请日 2016.10.26 （71）申请人 华为技术有限公司

地址 518129 广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼

（10）申请公布号 CN106526449B

（43）申请公布日 2019.02.12

书

（72）发明人 刘浩东;时小山;刘宗文

（74）专利代理机构 深圳市深佳知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人 王仲凯

（51）Int.CI

权利要求说明书 说明书 幅图

（54）发明名称

一种芯片测试板及芯片测试的方法

（57）摘要

本发明实施例公开了一种芯片测试板，用

于避免对待测试芯片结构的破坏并降低成本。本发明实施例的芯片测试板包括：基板和位于基板内部的传输线；基板顶面设置有第一连接点，第一连接点用于连接待测试芯片，基板底面设置有第二连接点，第二连接点用于连接测试顶针，传输线与第一连接点和第二连接点分别连接，传输线在基板中弯折；其中传输线通过第二连接点从测试顶针接收测试所需的激励，以及通过第一连

接点向待测试芯片传输激励，或者传输线通过第一连接点从待测试芯片接收目标输出结果，以及通过第二连接点向测试顶针传输目标输出结果，该目标输出结果是根据待测试芯片接收的激励得到。本发明实施例还提供一种芯片测试系统和芯片测试的方法。

法律状态

法律状态公告日2017-03-22 2017-03-22 2017-03-22 2017-04-19 2017-04-19 2017-04-19 2019-02-12 2019-02-12 2020-01-03 2020-01-03

法律状态信息

公开 公开 公开

实质审查的生效 实质审查的生效 实质审查的生效 授权 授权

专利申请权、专利权的转移 专利申请权、专利权的转移

法律状态

公开 公开 公开

实质审查的生效 实质审查的生效 实质审查的生效 授权 授权

专利申请权、专利权的转移 专利申请权、专利权的转移

权利要求说明书

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说明书

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