专利名称：一种基于光谱分析的保偏光纤长度测量系统及其方
法
专利类型：发明专利
发明人：李彦,孙彦凤,宋凝芳,姜漫,宋镜明申请号：CN201310273582.6申请日：20130702公开号：CN103363905A公开日：20131023
摘要：本发明公开了一种基于光谱分析的保偏光纤长度测量系统及其方法，测量系统包括SLD光源、待测保偏光纤、带保偏尾纤的起偏器、光谱仪、消光比测试仪、光纤适配器；测量方法，包括以下几个步骤：首先，构建I测试光路；然后，设定SLD光源的保偏尾纤与待测保偏光纤的熔接角度θ；第三，构建ER测试光路；第四，构建ER测试光路；第五，构建I测试光路；本发明系统测试装置简单，易操作；本发明系统测试系统稳定，测量数据准确；本发明系统提高了光纤环绕之前分纤的准确度，能够基本消除分纤时长度设定的困扰；本发明系统中采用带保偏尾纤的起偏器能够保证输出光波的光谱形状不受弯曲、应力等外界的影响。
申请人：北京航空航天大学
地址：100191 北京市海淀区学院路37号
国籍：CN
代理机构：北京永创新实专利事务所
代理人：赵文颖
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